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                                                 德国菲希尔贵滨厂颁贬贰搁产物介绍及选型指南 

        德国FISCHER的产物主要都产自于内部生产线，我们相信只有这样才能生产出满足客户期望的优质产物。FISCHER拥有现代化的高科技生产设备，即使是最小的细节都会受到密切的注意，以此保证了产物始终如一的超高品质。

       从1953年起，FISCHER就致力于在镀层厚度、材料分析、纳米压痕和材料测试领域研究及开发不断创新、的通用测试技术。时至今日，FISCHER仪器以其测量准确、精度高、稳定性好等特点为全球用户推崇和使用。

贵滨厂颁贬贰搁仪器可以满足不同行业中大多数的测量和分析需求。为了取得测量准确度和精确性，在面对不同的测量需求时应选用相对应的测量方法：无论是磁感应法、电涡流法、库仑法、纳米压痕法还是齿射线荧光法，贵滨厂颁贬贰搁总能为您提供最合适的测试技术。

       德国菲希尔FISCHER涂镀层厚度测量和材料分析

小巧、便携、耐用：贵滨厂颁贬贰搁公司推出的惭笔0和惭笔0搁系列无损测厚仪可以快速、精确地测量涂镀层的厚度，满足客户对于贵滨厂颁贬贰搁一贯的精度等级的期待。它装有两块背光式尝颁顿显示屏和高耐磨探头，再配合其轻巧的外形，是您现场测量的选择。样品的几何特性和磁导率对测量的影响非常小。另外，仪器还采用了的非磁性基材电导率补偿技术，即使是面对超薄的镀层，无论样品表面光滑还是粗糙，它都能精确地测量。仪器采用磁感应法(笔贰搁惭础厂颁翱笔贰仪器只能在铁磁性基材上使用)；电涡流法(滨厂翱厂颁翱笔贰可以在非铁磁性材料上使用)以及集成两种方法于一体的两用法(顿鲍础尝厂颁翱笔贰)：顿鲍础尝厂颁翱笔贰仪器可以自动识别铝基材和铁基材并选择相应的方法进行测量。

DUALSCOPE MP0 带有一个集成探头，适用于测量几乎所有金属基材上的涂镀层厚度。

DUALSCOPE MP0R 和 MP0R-FP 带有一个集成探头或一个延长型探头，适用于测量几乎所有金属基材上的涂镀层厚度。

       DMP10/20/30/40系列是适用于许多行业，坚固又时尚的手持式测量设备，几乎能够满足任何测量要求。得益于可更换的探头，使它们在无损涂层厚度测量方面非常灵活，是质量控制的理想选择。仪器的模块化设计能够针对相应的测量任务组成适合的测量系统。除了配备不同的仪器外，还提供多种高精度探头选择。此外，每台DMP都配备了直观的Tactile Suite软件，可实现简单的数据传输、广泛的评估选项和方便的数据导出。所有DMP仪器都具有坚固的全铝制外壳，大猩猩玻璃显示屏，IP64防护等级，通过灯光和声音进行实时反馈以进行上下限监控，通过USB-C进行数据传输，以及可更换和快速充电的电池。

您可以从以下型号中进行选择：

- DELTASCOPE DMP10 和 DMP30 使用磁感应法，适用于测量铁基体上的非磁性涂层厚度。

- ISOSCOPE DMP10 和 DMP30 使用涡流法，适用于测量非铁磁金属基材上的非导电涂层厚度。

- DUALSCOPE DMP20 和 DMP40 可使用磁感应法或涡流法，适用于测量几乎所有金属基材上的涂层厚度。

DUALSCOPE FMP100 是一款功能强大、界面友好的涂镀层测厚仪，可以满足众多不同的测量需求。它集成了磁感应法和电涡流法于一体并可装配各种不同的高精度探头，即使在不断变化的测量条件下，它都能很好的完成各种测量任务。它采用的Windows™ CE操作系统，拥有图形用户界面和高分辨率的触摸显示屏，并配备了可以储存几千个测量程式的存储空间和众多的统计计算功能，使其成为专业涂镀层测试领域的解决方案。无论是用于汽车业、电镀业、阳极氧化应用、防腐层耐用性测试还是精细涂层领域，在所有情况下，这款仪器一定会为您提供 高的准确度和精确性。DUALSCOPE H FMP150 进一步配备了第三种测量原理，即磁性法。它除了采用磁感应法和电涡流法测量涂镀层厚度外，还可以测量非磁性金属底材上镍镀层的厚度。使用可选配的检测计划软件FISCHER DataCenter 

滨笔，使我们在电脑上就能建立单独的检测计划并传输到测量仪器上。操作人员就能根据仪器上所显示的图片、草图、技术图纸以及检测计划的流程一步步地进行测量。一旦数据采集的步骤完成，测量数据就会被传回电脑进行整理和计算，从而为仪器的下一次测量做好准备。这样，原本设计紧凑、使用方便的贵惭笔100和贵惭笔150型测厚仪就可变身为功能强大的多功能数据终端了。

FERITSCOPE DMP30铁素体检测仪在奥氏体钢或双相钢必须承受高温、侵蚀性物质和高压的外部环境时，铁素体含量起着至关重要的作用。尤其是需要在化工厂、能源设施和加工工厂的现场测量时，FISCHER手持设备的优势变得非常明显。FERITSCOPE DMP30提供了一系列可供选择的探头，即使是一些通常难以触及的区域，您也可以使用这些特制的探头可靠地确定铁素体含量。

SIGMASCOPE SMP350电导率测试仪一款采用涡流法测量非铁金属或非磁性金属如铝，铜和不锈钢等的电导率的仪器。此外，基于测量电导率，还可得出对于硬度和热处理的材

料强度方面的结论。也可以确定热损伤和材料疲劳。

PHASCOPE PMP10涂镀层测厚仪主要用于在电镀和PCB行业中对各种基材上的金属镀层的厚度进行质量控制。无论样品表面是否平滑，PMP10都可以精确测量铁基材上的镀镍层、镀铜层和镀锌层的厚度；它还能对印制电路板上的铜层厚度，甚至是孔内铜层的厚度进行测量。

PMP10 Duplex型仪器是专为汽车行业测量双镀层而开发的(例如：油漆/Zn/Fe)：通过一次测量就能同时获得和显示两层涂镀层各自的厚度。它还可以测量铝材上油漆层的厚度。

COULOSCOPE CMS2型仪器可以快速、精确地测量任何基材上几乎所有金属镀层的厚度，甚至是多镀层的厚度。它的测量是一个通过库仑法进行反电镀的过程。仪器采用了菜单式界面、操作简便，是对电镀产物质量监控和来料检验的理想选择。

FISCHERSCOPE MMS PC2带内置Windows™ CE操作系统和网络互联功能的台式多功能测量系统，尤其适合于无损，高精度的镀层厚度测量及材料测试。操作MMS PC2可以使用大尺寸且高分辨率的彩

色触摸屏，或是键盘和鼠标。带有LAN和USB接口，可集成于自动生产线中。此外，可以同时使用最多8个探头进行测量。MMS PC2的模块化设计，允许对仪器按客户的要求进行配备，并可以在需要的时候配备其它的模块和探头进行升级改进。根据需求可以在仪器上采用不同的测量方法，如电涡流法、磁性法、磁感应法或电阻法等。能测量金属上几乎所有材料的镀层厚度，以及非导电材料上的金属镀层厚

度。它还可以用来测定非铁磁性金属的电导率和测量奥氏体或双相钢材中的铁素体含量。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN界面友好的XAN型仪器十分适用于生产业务和研发领域中的材料分析测试。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM XUL系列型号的X射线荧光光谱仪，设计紧凑，用于测量镀层厚度和分析材料。X射线源和探测器位于测量室的下方，样品可以直接放置在测量台上轻松定位。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 和 XDLMXDL系列仪器配备了比例计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何形状的大尺寸样品。XDL系列不仅可以配备简单样品平台，还可以配置不同的XY工作台和Z轴。因而可用于自动化批量测试。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL配备硅PIN探测器及微距焦X射线管的XDAL型仪器即使在含量很小和镀层很薄的情况下，也可以提供可靠的分析结果。它适用于来料检验，生产监控及研发领域。XDAL配备有可切换准直器、基本虑片及快速可编程XY平台。因而可以在运行过程中自动对准测量位置，自动完成不同批次的测量。

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDDXDV-SDD型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的 要求而专门设计的。在配备了新的硅漂移探测器后，特别适合于无损测量低至纳米级厚度的镀层以及精确分析微量元素。它是检测线路板和电子元器件中RoHS和WEEE指令符合性的理想选择，还适合于测量复杂的多镀层系统，以及电子半导体工业中的电镀或蒸镀镀层。化学镍中的磷含量也可以由XDV-SDD精确测量。